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字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2016-1-19 12:26 作者: 流星锤 来源: 分析测试百科网
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原帖由 hyuu 于 2016-1-19 12:28 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '') 有就自己做下,ATR不需要制样,但是能量较弱,压片法需要自己制样,但一般的谱图能量较好
最新回复
33号 (2016-1-19 12:26:49)
49888 (2016-1-19 12:27:14)
流星锤 (2016-1-19 12:27:38)
duchy (2016-1-19 12:27:54)
因为一般ATR附件本身对红外也有损耗,故低频端无法测到很低,比如一般ZnSe,Ge晶体的都只到700cm-1左右,如果你要求从400cm-1开始,比如药学领域,那么就不适用了。
粗浅认识,如果不对还请指点,我也在学习红外中。
feixi (2016-1-19 12:28:19)
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你可以自己先试一下ATR和压片,有这讨论的工夫你可以多去试一下,有了数据,你自己心里慢慢就有底了
自己不做,只听别人说,你是不会有深刻印象的
hyuu (2016-1-19 12:28:35)
3N4G (2016-1-19 12:28:59)
QUOTE:
现在ATR的能量还是可以的啊。3N4G (2016-1-19 12:29:22)
caihong (2016-1-19 12:29:40)
33号 (2016-1-19 12:30:02)
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ATR法是个什么方法哦
3N4G (2016-1-19 12:30:27)
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可看一下贝卡老师的原创:
几种ATR-IR技术对比
33号 (2016-1-19 12:30:52)
【求助】选择压片还是ATR?