日本电子推出新型场发射扫描电镜JSM-7200F
分析测试百科网讯 2015年9月2日，日本电子于皮博迪推出一款新型场发射扫描电镜JSM-7200F。日本电子JSM-7200F扫描电镜在1.0kV的条件下拥有1.6nm的超高空间分辨率和300nA的高探针电流。此外，日本电子JSM-7200F扫描电镜紧凑的外观设计方便用户安装，友好的界面系统也易于用户进行操作。
日本电子场发射扫描电镜JSM-7200F
日本电子JSM-7200F扫描电镜设有镜头探测器，可以通过不同的内置能量过滤器采集各种信号，使得仪器可以在很短的时间内获得大量数据。JSM-7200F扫描电镜的这种高通量性能很适用于当今的快节奏制造环境。而对于研究环境来说，它则为分析员们提供了多种对比机制。利用EDS、 WDS、 EBSD、STEM、BSE和CL可以很容易和有效地进行无缝观察和分析。
日本电子JSM-7200F扫描电镜可用于任何类型的样品分析，包括磁性样品、非导电材料、生物标本以及半导体器件。该仪器是日本电子场发射扫描电镜系列的新成员，此外还包括JSM-7800F PRIME扫描电镜。
日本电子JSM-7200F扫描电镜与Gatan 3View®成像系统集成后，也可以作为理想的神经科学应用程序或其他3D成像应用。
日本电子JSM-7200F扫描电镜在同类产品中属于一个低端向的扫描电镜，但是它可以为各种分析提供一个很好的分辨率、快速的采集速度以及最小的光束停留时间，并在多用户环境中提供一个远程操作和诊断功能。
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