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2011中国材料研讨会暨展览会在京隆重开幕

2011.5.19

  

  开幕式结束后,黄伯云院士主持了2011年科技成果展览、新材料/新工艺/新设备博览会及材料科普展剪彩仪式。随后,与会领导及代表参观了三大展览。

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剪彩仪式现场

  C-MRS依托快速发展且前景广阔的新兴中国市场,力求全面反映新材料研发与应用的最新产品、技术成就,全方位展示国内外能源与环境、电子和功能陶瓷材料、交通材料与镁、生物材料等领域的先进技术及产品;为高水平的新材料领域及用户提供信息、技术和产品支持。越来越多的业界国内外厂商选择C-MRS作为其最新产品与技术全球发布的首要平台。C-MRS接待了来自世界上多个国家和地区的参展企业参展,展览面积逐年扩大。接待了数千名来自国内科研院所、高等院校、重点实验室、企事业单位的专业观众。C-MRS现已发展成为我国规模最大、专业性水平最高的材料领域的行业盛会,被业界人士誉为“中国材料第一展”。

  本次展会共吸引来自国内外100多家展商报名参加。其中国际展商代表有德国布鲁克、安捷伦科技、英国顾特服剑桥GoodFellow、日本 HORIBA、美国博勒飞、德国FCT等;国内展商代表有北京中科科仪、德祥科技、创新思成、先明乐施、上海大恒等行业代表性的企业参加。参加展览的国内研究院校有:北京科技大学、哈尔滨工业大学、中国建筑材料科学研究总院、中南大学、中科院沈阳金属所等。

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展览会现场

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安捷伦科技展台

  安捷伦科技在本届展会上主要展出了其全新的纳米测量技术,如纳米压痕仪G200、5000系列原子力显微镜和场发射扫描电子显微镜8500等。

  纳米压痕仪G200采用安捷伦特有的一种全新的定量测试技术,可排除基底效应,对薄膜进行测量;可用于测量聚合物得存储模量和损耗模量;可进行接触刚度成像。

  5000系列原子力显微镜具有灵活多变的成像平台,可实现液态成像和在受控环境下成像,5000系列原子力显微镜还具有高端的电学性能表征功能。

  场发射扫描电子显微镜8500操作简便,结构小巧,可以方便的配置应用于常规实验室中;该系统创造性地优化了低压成像技术,最大程度的提高了图像的表面对比度;无需额外的辅助设备;其大小仅如常用的镭射打印机;功能强大。是行业内性价比最高的场发射扫描电子显微镜。

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布鲁克展台 D2 PHASER X射线衍射仪

  本次展会上布鲁克主要展出的是D2 PHASER X射线衍射仪。D2 PHASER X射线衍射仪是一款最快速、精度最高的桌面型衍射仪。拥有每分钟48度的测量速度,即使强度不到1%的弱峰也能检出;样品检验精度高,全谱范围内所有峰位偏差不超过0.02度。

  D2 PHASER 配备布鲁克最新的θ/θ高精度测角仪,结构紧凑,传统衍射仪的所有组成部分都集中在70×61×60cm这样一个空间内。同时,D2 PHASER还可以配备LynxEyeTM林克斯一维阵列探测器。使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。

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日本HORIBA展台

  日本HORIBA在本次展会上展出了碳硫氧氮氢分析仪,X射线荧光分析显微镜。高性能颗粒度表征产品、ICP等离子体发射光谱仪、椭圆偏振光谱仪和激光拉曼光谱仪等产品。

  碳硫氧氮氢分析仪是日本HORIBA30多年丰富检测技术的沉淀,碳硫的检测采用先进的4检测器同时检测的方式,降低运行成本,气路简单可靠。ZL技术的加热型粉尘过滤器,减少二氧化硫的吸附,提高硫分析稳定性。首次在高频感应加热炉上实现了温度调控的功能。氧氮氢分析以上独特的助溶剂/样品双重投料机构(ZL技术)彻底消除助溶剂空白对检测的影响。碳硫氧氮氢分析仪拥有同类设备中最高的检测精度,可同时满足无机材料中碳硫氧氮氢的分析,同时也是针对钢铁材料和有色金属材料中碳硫氧氮氢分析的专业解决方案。

  X射线荧光分析显微镜采用ZL技术的X射线聚光导管(XGT),将光学图像和元素分析完美结合,轻松实现样品中元素的分布分析。提供革命性的10um直径X射线束,实现对样品高分辨的元素分析。提供多种样品图谱采集方式,单点分析、多点分析、X射线透过像、高光谱元素面分布图像等。拥有局部真空和全真空的双真空模式。

  ICP等离子体发射光谱仪能提供快速定性、半定量及全定量分析。全系列拳谱ICP光谱仪涵盖了信息量最多且最宽广的波长范围120-800nm。最宽广的电子动态范围,简单易用。是一款具有最高光通量、最低杂散光的光学系统,拥有恒定的光学分辨率,体现最干净的光谱剖图。

  椭圆偏振光谱仪基于相调制和液晶调制椭圆偏振光谱技术,是薄膜光学分析与三维成像的完美结合,主要用于厚度测量、光学特性、界面特性、表面测量及材料特性等。

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中科院沈阳金属所展台

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北京科技大学展台

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中国建筑材料科学研究总院展台

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