2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京顺利通过验收。课题验收会由“十一五”国家科技支撑计划重点项目“科学仪器设备研制与开发”的组织部门――国家质检总局科技司主持召开，来自科技部、质检总局、北京市、教育部、中科院、总装备部和国土资源部等部门的20名专家、领导出席了会议。验收专家组审阅了课题组提供的验收资料和测试专家组提供的测试报告，听取了课题执行情况自评价报告和课题研究等报告，经质询和讨论，专家组一致同意项目通过验收。
课题形成了有关SIMS和TOF串联质谱的新技术、新产品、新装置和计算机软件等共19项成果，其中5项已在相关领域成功应用，冷阴极双等离子气体源工艺研究等具有创新性。申请国内发明ZL24项、国际发明ZL6项。发表论文29篇，其中国际刊物发表5篇。