麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司于2011年4月27日在北京中科院过程工程研究所过程大厦成功的举办了2011年第5次“颗粒表征技术讲座”。在此次讲座中，来自美国麦克仪器公司的资深专家Simon Yunes博士和Andres先生深入浅出地讲解了物理吸附，化学吸附，电阻法颗粒计数粒径分析以及动态图象法颗粒分析等技术。此外，两位专家还结合使用Micromeritics产品的一些方法技巧与问题，与各位用户进行了深入的交流。麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理许人良博士主持了此次讲座。