精工盈司举办荧光分析仪器在文物保护的应用讲座

2010-11-11 17:29 来源: 精工盈司电子科技(上海)有限公司
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精工盈司电子科技(上海)有限公司与西安文物保护修复中心联合举办荧光分析仪器在文物保护领域的应用讲座

        2010年11月09日上午, 精工盈司电子科技(上海)有限公司和西安文物保护修复中心一同举办了《X荧光分析仪器在金属、彩绘文物保护领域的应用》讲座。

讲座现场

样品分析演示

        为进一步推广新型X荧光分析仪器在金属、彩绘文物保护领域的应用,经协商,精工盈司电子科技(上海)有限公司向西安文物保护修复中心免费提供X荧光分析仪器进行短期试用,并举办了“X荧光分析仪器在金属、彩绘文物保护领域的应用”讲座。讲座介绍了X荧光分析技术的原理、使用对象和在文物保护工作中的具体应用,并进行了现场样品分析演示。
       演示的X荧光分析仪器-SEA6000VX除了具备以往X荧光分析仪器的点测试功能外,还具有“扫描分析”功能,可以对样品表面元素进行扫描,获得表面元素分布信息,了解样品表面元素的分布图,并计算任意区域的元素含量;还可将单独元素分布照片与可见光照片相互叠加、对比,在彩绘、金属文物的元素分布和工艺研究有很大的优势。

   

壁画样品分析

  铜镜样品分析结果

        西安文物保护修复中心将在使用期间对全省各文物单位免费提供分析检测服务,希望能够和各兄弟单位共同在文物保护修复方面有新的研究和进展。