牛津仪器纳米分析部于2011年6月2日在江苏无锡金陵饭店举办了INCA Feature颗粒度自动分析系统应用研讨会。

　　会议得到了牛津仪器的高度重视和用户的热情参与。来自江苏,浙江和广州的四十位来自半导体硬盘HPA领域的用户参加了会议。

　　会议由牛津仪器亚太区销售经理Jonathan
Bryan先生致欢迎词，中国区销售经理冯俊先生介绍了牛津仪器在中国的销售情况及液氮能谱升级至电制冷能谱的方案。应用专家焦汇胜博士报告了牛津仪器的最新能谱分析系统的情况。

　　牛津仪器的应用专家李慧为用户进行了详细而全面的Inca Feature
颗粒度自动分析系统应用培训。来自上海硅酸盐所的微束分析专家李香庭教授介绍了能谱仪分析特点及应用。

　　通过这次会议，用户进一步掌握Inca
Feature颗粒度自动分析系统及能谱仪在半导体硬盘HPA领域中的应用，并且了解能谱仪最新的进展及应用特点。