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TESCAN（中国）与上海交大分析测试中心联合实验室揭牌

2017.5.19

　　——暨TESCAN（中国）上海应用中心开幕

　　分析测试百科网讯 2017年5月18日，上海交通大学分析测试中心和TESCAN（中国）联合实验室揭牌仪式在上海交通大学闵行校区举办。上海交通大学分析测试中心主任张兆国、副主任金承钰、副研究员何琳，TESCAN董事会主席兼CEO Jaroslav Klima、董事兼首席战略官Radomir Kopriva、中国区总经理冯骏等出席，主办方还邀请了来自全国各地的50余位电镜用户参与本次活动。

上海交通大学分析测试中心和TESCAN（中国）联合实验室揭牌仪式现场

　　上海交通大学分析测试中心主任张兆国和TESCAN（中国）总经理冯骏在上海交通大学分析测试中心和TESCAN（中国）联合实验室揭牌仪式上致辞。

上海交通大学分析测试中心主任张兆国

TESCAN（中国）总经理冯骏

　　冯骏在致辞中介绍了TESCAN公司的历史发展与管理团队，说道：“我感到非常荣幸，TESCAN（中国）能与上海交通大学分析测试中心成立联合实验室。TESCAN在电镜领域有非常悠久的研发和历史，发展成为全球知名的扫描电子显微镜制造商。我们对在国内的所有TESCAN用户都进行了回访并了解到大多数用户对TESCAN产品比较认可，稳定性和操作便利性的评价很高，对服务和应用支持也提出了更多要求。因此，我们调整了销售、应用和维修团队，也吸引了更多优秀的人才加入TESCAN（中国），定期开展用户培训，与重点用户建立联合实验室。”

　　上海交通大学分析测试中心主任张兆国和 TESCAN董事会主席兼CEO Jaroslav Klima为联合实验室合作协议签字并共同揭牌。

揭牌仪式

　　上海交通大学分析测试中心和TESCAN（中国）联合实验室揭牌仪式结束后，主办方安排参观上海交通大学120周年校庆专题展示馆与上海交通大学分析测试中心，并合影留念。

参观上海交通大学120周年校庆专题展示馆

参观上海交通大学分析测试中心扫描电镜仪器室

　　上海交通大学分析测试中心目前配置多台TESCAN公司电镜及FIB系统，其中一套TESCAN超高分辨扫描电镜-聚焦离子束-飞行时间二次离子质谱联用系统，配有镜筒内二次电子探测器、镜筒内背散射电子探测器、EDS和EBSD附件，可进行低电压超高分辨的电镜观察，也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积，从事内部和截面观察及全静态三维表征，以及特定图形加工工作，而飞行时间二次离子质谱则可以进行轻元素和微量元素分析。

　　TESCAN（中国）市场部经理顾群谈到：“电镜可以看到表面的微观形貌，通过添加附件能谱仪可以进行元素分析。但是能谱仪有局限，轻元素和含量低的元素，无法检测，通过与TOF的联用完善了分析的功能。利用FIB技术可以对样品指定位置进行精细的剥离，切割下来的部分被送去质谱进行元素分析，新露出来的部分通过能谱仪或者其他工具采集样品的成分、结构等信息。因此这相当于从二维分析走向了三维分析。配置多种附件的FIB可以在几十微米空间上得到样品的精细信息，对材料的表征达到比较全面的情况。”

上海交通大学分析测试中心门口合影

　　下午，TESCAN（中国）举办了上海应用中心揭幕仪式，邀请了来自武汉大学电子显微镜中心主任王建波，兰州大学电镜中心执行主任彭勇，上海交通大学分析测试中心何琳，清华大学摩擦学国家重点实验室杨文言、王榕，北京大学工学院高精尖中心黄天云，中山大学分析测试中心赵文霞，广东工业大学机械工程学院王冠；中科院微电子研究所金智，中科院硅酸盐研究所分析测试中心副主任曾毅，吉林省电镜学会秘书长葛辽海，中国电子科技集团公司第55研究所高建峰；捷克领事馆总领事馆馆长Richard Krpac以及著名企业代表和TESCAN合作伙伴等参加开幕典礼，TESCAN董事会主席兼CEO Jaroslav Klima、捷克领事馆代表、TESCAN（中国）总经理冯骏、沈阳元杰光学技术有限公司总经理马晓冰分别为上海应用中心开幕典礼致辞。