863项目“相变随机存储器存储材料及关键技术”通过检查

2010-9-07 16:30 来源: 中国科学院
收藏到BLOG

  9月6日,由中国科学院上海微系统与信息技术研究所宋志棠研究员主持承担的863计划重点课题项目“相变随机存储器存储材料及关键技术”通过中期检查。

  国家集成电路研发中心主任赵宇航、国家科技部高技术研究中心处长史冬梅、材料处办公室张芳以及中科院半导体所副所长陈弘达、中科院光机所主任吴谊群作为评审专家出席了会议。中科院上海微系统所党委书记、常务副所长王曦院士,科技处长胡善荣以及项目组成员共计20余人参加了此次会议。会议由检查专家组长陈弘达主持。

  会上,项目负责人宋志棠研究员汇报了课题中期进展,专家组认真审查了相关技术文件和资料,参观了课题组完成的16Kbit-1M的封装芯片和RFID-PCRAM流片样品,并现场测试8寸1Mb测试芯片。结果表明,各项技术指标均全面满足合书同要求,专家组对此给予了高度评价和肯定。

  专家组评议认为,该课题自启动至今取得了重大的关键技术突破和阶段性成果:组建了强大的100多人的产学研队伍;通过与企业建立联合的8英寸PCRAM专用的工程化的平台,实现PCRAM芯片的工程化的开发,具备了64 Mb PCRAM芯片的开发能力,同时完成了产业化PCRAM专用12寸平台的总体方案与合同谈判与招标,有望在项目结束时把平台建设任务完成;已将PCRAM芯片初步应用于RFID产品的开发,有望在成本和性能上替代传统产品;与企业联合成立了新储集成电路股份有限公司,规定了三方利益与产品的出口,正在与大的财团与民用企业进行交流,从产业链的角度进行产品的应用开发研究,推动PCRAM芯片的产业化与国际竞争力。

  专家组一致认为该课题顺利完成中期检查任务,并对课题项目的下一步计划提出了要求。他们希望该项目能够进一步加强PCRAM存储器的实用化,大力拓展产品应用领域。

评审会现场

宋志棠研究员汇报课题中期进展

现场测试