X射线光电子能谱仪(XPS)为当前最重要的表面分析技术。该技术基于光电效应，采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子，通过系统探测到所发射光电子的动能等信息，进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。XPS广泛应用于催化、化工、半导体、微电子、薄膜、太阳能、高分子聚合物、陶瓷、钢铁、金属、生物材料、纳米技术等等领域。

　　赛默飞世尔科技表面分析产品多功能数字化X射线光电子能谱仪ESCALAB 250Xi，是2009年11月推出的ESCALAB系列中最新的产品，结合了高灵敏度与高分辨率定量成像，以及多种测试技术(如AES、UPS、 ISS、REELS)，可为高水平科研用户(高校、研究所、企业研发中心)的快速的表面分析综合测试需求。满足从事表面，薄膜和界面的常规表征工作，乃至前沿表面化学研发的要求，提高测试效率和研发实力。

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　　讲座题目：《 赛默飞世尔科技ESCALAB 250Xi多功能数字化X射线光电子能谱仪技术特点及其应用》

　　开始时间：2012年3月21日(周三) 14：30

　　主讲人：赛默飞世尔科技表面分析产品部　许逾群先生