欧阳昆：双向观测ICP-OES 最小化您的等待时间
2014年10月20日，CCATM’2014国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会在京召开，在化学场上，来自国内外相关领域的专家、学者、技术人员及仪器设备厂商100余人参加。现将部分报告整理供大家参考学习。
来自安捷伦科技（中国）有限公司的欧阳昆工程师为大家带来了《双向观测ICP-OES 最小化您的等待时间》的报告。
安捷伦科技（中国）有限公司 欧阳昆工程师
欧阳坤工程师介绍了安捷伦科技最新推出的区别于传统的、极具创新的、全新概念的全球首款同步双向观测电感耦合等离子原子发射光谱仪（ICP-OES）—安捷伦5100 SVDV系列。仪器采用了ZL技术的DSC智能光谱组合技术，实现了同步的水平及垂直双向观测分析。仪器秉承简洁实用，高效、高通量，低成本设计。在满足日常常规及复杂样品分析的同时，大大节省运营成本，降低消耗。并且保持了非凡的稳定性和适用性能。高科技的运用及全新概念的仪器设计，使得ICP光谱的分析能力又有了新的提升与创新发展。
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