西安光机所研制出干涉成像光谱仪的平场方法

2011-5-04 10:02 来源: 中国科学院
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  干涉成像光谱仪输出的图像信息是干涉条纹,其不同于一般照相机。因此,普通照相机的平场原理与方法不适用于干涉成像光谱仪。目前,修正CCD探测器与电子学部分像元间响应不一致性的方法,其修正的全面性及效果相对较差。尤其是当光学系统具有较大视场甚至有渐晕时,缺点更为突出。

  针对这一难题,中科院西安光学精密机械研究所科研人员设计出一种干涉成像光谱仪的平场方法,用于消除干涉成像光谱仪系统误差。该方法将被平场干涉成像光谱仪的光轴对准平场光源的开口中心,通过图像采集被平场干涉成像光谱仪输出的干涉图像数据,送至计算机进行处理,计算平场校正矩阵。分析平场不确定度,获得平场校正矩阵。

  通过这种方法解决了技术背景中修正的全面性及效果相对较差的技术问题。此方法主要用于空间调制型干涉成像光谱仪整机的平场,以消除系统误差,可以一次性地修正各种因素造成的像元间响应的不一致性。同样适应于飞机或卫星搭载的干涉成像光谱仪在飞行过程中的利用地面标准辐射场的平场。

  该项目由西安光机所赵葆常、杨建峰、薛彬、乔卫东、邱跃洪等人完成,目前已获国家发明专利授权(专利号ZL200710018975.7),并于5月3日收到专利证书。