分析测试百科网讯 2017年5月8日，由国际纯粹与应用化学联合会（IUPAC）和中国化学会（CCS）主办的2017 年国际分析科学大会（ICAS 2017）质谱分析分会在海南国际会展中心举行。

　　中国工程物理研究院、化工材料研究所博士朱春华带来了题为《通过原位X射线光电子能谱仪/质谱仪探测电子束诱导还原石墨氧化物》的精彩报告。

　　报告介绍了通过X射线光电子能谱/质谱仪（XPS-MS）直接监测暴露过程中释放的化学结构变化和气态物质，通过电子束照射，无溶液化学和高温，成功地还原了氧化石墨（GO）。GO的还原程度可以通过电子束强度和照射时间有效地调节，导致C / O比高达5.27。报告还介绍了具有照射时间的C 1s光谱的演变。在照射期间检测到CO，CO2，H2分子和几种有机物质，证实电子束诱导加热以及部分蚀刻引发GO的脱氧反应。组合化学结构演化和气体物质分析使得XPS-MS作为强大的原位分析仪器非常可取，用于跟踪反应过程。这里详细描述的电子束诱导的加热还原提供了在一步中从GO制造石墨烯装置的潜在方法。