Vion IMS QTof为常规分析带来离子淌度优势和更大分离功率
这是一个台式串联质谱仪，分析实验室的离子淌度的清晰度、准确性和生产力将上升到新的水平
2015年5月27日–沃特世公司（纽约证券交易所代码：WAT）今天推出了VionWaters® Vion IMS Q-Tof质谱仪，为常规分析提供了清晰和准确的结果。
离子淌度技术能够消除质谱干扰，针对每个离子生成碰撞截面(CCS)特征值，帮助研究人员获取相比于传统液质联用技术更加丰富的信息。沃特世计划于今年下 半年开始发售这款Vion IMS QTof质谱仪。™ IMS Q-Tof™质谱仪在美国质谱学会第六十三届年会上展出，将高分辨率串联质谱仪与离子淌度分离技术的优势完美结合在一套台式仪器中，“这款Vion IMS QTof仪器的设计汇聚了我们在离子淌度技术方面积累的十多年专业经验。对于需要进行样品筛查、代谢物鉴定或各种经典组学分析的科研人员而言，借助这款仪 器，他们在单次分析中检测和鉴定所有样品分析物的能力将上升到一个更高的水平，“沃特世质谱仪产品管理部门总监Gary Harland博士说道，”无论样品中有多少种分析物，又或者不论这些分析物的浓度是多少，Vion IMS QTof都能够帮助各种实验室更好地应对分析挑战，实现他们的科研和业务目标。“
常规分析中需要应对的样品日益复杂，因此科研人员对高 分辨率质谱的依赖程度也随之增加。但是，仅仅提高质谱分辨率有时也无法完全解决问题。离子淌度技术可根据离子的形状、质量数和电荷对其进行分离，从而提供 额外的分离维度。离子淌度的选择性可实现谱图的优化，帮助仪器从色谱共洗脱化合物和背景干扰物中区分出样品离子，使获得的每张谱图都更加清晰，实现化合物 的准确鉴定。
在一个LC-MS实验中每一个离子通过Vion IMS Q-Tof, CCS能够进行自动测量，其结果是常规而有效的。现在的科学家有了更高的能力而更加自信的去鉴定待测物并克服日常挑战，例如通过复杂矩阵和不同色谱条件的使用来改变保留时间。
Vion IMS Q-Tof的优势在于Waters的前进波离子淌度、XS离子光学和新的2代QuanT™技术。2代QuanT™技术为离子淌度的常规提供动态范围，使得它能够在日常定量/定性应用中使用。Vion IMS Q-Tof是由行业领先的UNIFI®科技信息系统支持，这为仪器控制、数据处理和报告提供了一个平台。流线型的工作流程提高了生产力并有利于用户做出更快、更明智的决策。
400-6699-117 转 6220
