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天美将参加第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会

2010.5.05

  2010年5月9-12日由中国微米纳米技术学会纳米科学技术分会主办,全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术标准化工作组协办,厦门大学和国家纳米科学中心联合承办的“第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会”在福建厦门大学举行。会议将邀请国内相关领域的知名专家做大会专题报告,会议期间还将召开纳米科学技术分会第二届理事会会议。

  天美(中国)科学仪器有限公司将作为赞助商参加此次研讨会,展示天美公司用于“表面及微结构”、“触摸纳米世界”表征的综合方案,为促进我国纳米科学技术交流与合作,提升我国纳米科学技术的创新能力做出自己的贡献。

  时间:2010年5月9-12日

  地点:福建•厦门大学

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