理学推出全反射X射线荧光光谱仪 镉元素检测有优势
近日，日本理学宣布推出新一代理学NANOHUNTER II台式全反射X射线荧光（TXRF）光谱仪，液体或固体表面高灵敏度痕量元素分析达到ppb水平。全反射X射线荧光光谱通过一种途径使X射线入射光束刚好擦过样品，来实现低背景噪音、高灵敏度的超微量元素测量。
NANOHUNTER II台式全反射X射线荧光（TXRF）光谱仪
全反射X射线荧光分析是利用原级X射线束能在样品表面产生全反射激发进行X射线荧光分析的装置和方法。由于其取样量小、检出限低的优势，克服了常规XRF取样量大、灵敏度低这些最明显的缺陷，因而常用来解决地学、材料、微电子、环境、生物医学、刑侦和考古等学科中超微量样品的超痕最元素分析的难题。
由于环保法规日益严格，使用更简单的方法进行低至ppb级别分析的需求不断上升，诸如工厂废液等中的砷（As）、硒（Se）和镉（Cd）分析。据悉，使用NANOHUNTER™II光谱仪，即使是非常小的样本尺寸也能进行ppb级的分析，仅仅通过添加一滴液体到样本台，干燥之后即可测量。
该NANOHUNTER II全反射X荧光分析仪结合了全自动光轴调节系统，用来提供稳定的高灵敏度分析，台式外形方便操作，能够快速无故障运行。600瓦功率的X射线源，最先研制的光学器件和大面积硅漂移探测器（SDD），可以实现高强度、高灵敏度测量。镉检测下限为2 ppb，对于液体中的砷和硒，检测下限能达到0.8 ppb以下。
该仪器一个重要的优点是Kα线的高效率激发。到目前为止，优异的镉的Kα线极具挑战，因此内内人士基于L-线进行分析，这种方式很难测量。在本装置中采用新开发的光学元件可以使用30 keV 的高功率激发源，这使得测量镉时它对Kα线有高的信噪比和明显的峰形。这一功能的广泛开发，预计能在工厂废液筛查分析和酒类等饮料的分析中广泛应用。
在固体表面分析领域，需要穿透略深于表层的范围（主要在薄膜和膜厚方面）进行分析。对于这种类型的分析，采用掠入射X射线荧光（GI-XRF）方法，通过改变X射线源的入射角使表面之下的元素被激发。NANOHUNTER II光谱仪具备改变入射角的功能，能够进行深度表面分析。GI-XRF技术适用于纳米级研究。
仪器特点
1、检测元素范围广
可检测元素从Al 到U。
2、针对极小样品量检测
对于液体样本，10uL-50uL就足够了，比常规化学分析方法样本量低一到两个数量级。法医调查中可以达到理想的使用非破坏方法用于痕量证据的分析。
3、自动测量
通过使用16位样品转换机构，能够进行自动操作（连夜运行）；
对于设备安装无特殊要求；
100伏交流电源可运行，分析无需气体。
相比上代的改进要点
1、新的高功率X射线源
采用600瓦的X射线源，相比前代50瓦源显著增加。
2、钼（Mo）激发实现100倍灵敏度提高
与（8 keV）铜（Cu）激发灵敏度提高10倍相比，钼（Mo）激发（18keV）灵敏度提高100倍。对于铜和钼之间，原子序数在30到41的元素能够被高效激发，全新开发的多层膜反射镜光学器件，使得原子序数44-49的元素的Kα线可以被激发。
3、有竞争力的价格
通过较低的价格实现各种技术革新。
