帕纳科最新的X射线衍射仪——Empyrean锐影由著名的独立评审委员会评定为今年顶尖的技术创新之一。

　　2011年7月7日在荷兰阿尔默洛 - 帕纳科-世界领先的X -射线衍射(XRD)和X
-射线荧光光谱仪(XRF)分析仪器及软件的供应商宣布，其新设计的Empyrean锐影X射线衍射系统已被确认为2011年R&D
100大奖得主。在49年的历程里R&D 100大奖是举世公认的确定并表彰高科技产品的“创新奥斯卡奖”。

　　“获奖技术”
指出，Empyrean锐影具有在一台仪器上测量各种类型样品的独特能力——从粉末到薄膜、从纳米材料到固体物质。Empyrean锐影系统真正的独特之处是具有可以进行CT扫描固体物质内部结构而不必将它们切开的能力。使用CT分析，使得X
-射线衍射分析检查区域内存在的孔隙或物体内夹杂物成为可能。