赛默飞世尔科技在Pittcon 2011推出新型ARL PERFORM'X XRF（1）

　　美国佐治亚州，亚特兰大，2011年3月17日

　　全球服务科学的领导者赛默飞世尔科技公司，在Pittcon 2011展会期间推出一款针对高端材料表征的ARL PERFORM'X XRF分析仪。ARL PERFORM'X即可以进行面扫描，也可以进行非常小的点分析，为分析各种固体和液体样品提供了无以伦比的分析性能。赛默飞世尔科技将在2011年3月13~18日举办的Pittcon 2011展会期间，展出该款新品。

ARL PERFORM'X XRF分析仪

　　ARL PERFORM'X是一款高度精确的系统，用户可以选择0.5~35mm区域进行分析。在测量样品的标准化学成分上，ARL PERFORM'X系统非常适用于针对小区域进行分析，可精确到样本0.5mm的区域内，显著提高了该产品的通用性。该系统提高了X射线绘图和样品可视化的分析性能，同时还可帮助用户识别样品的不均一性，例如原先无法检测的元素杂质、残缺以及变化率等。ARL PERFORM'X 能够分析各种尺寸大小的固体、液体、粉末以及薄膜样品，与原先实验室的分析方法相比，该系统能够提供无以伦比的分析性能和多功能性。