2010年7月30日~8月1日，在吉林长春举办的2010年全国质谱大会暨第三届华人质谱研讨会期间，AB Sciex公司重点展出在今年ASMS上推出的TripleTOF™ 5600系统。分析测试百科网在场记者进行了即兴采访，以下是图片和产品相关介绍。
AB Sciex公司展台
TripleTOF™ 5600系统
AB Sciex公司在本届质谱大会上重点介绍其在今年ASMS上推出的TripleTOF™ 5600系统。来自AB公司高级应用工程师赵贵平老师介绍到，该系统的推出突破了小分子用四极杆定量，大分子用高分辨TOF的传统观念，TripleTOF™ 5600集质谱系统的高分辨、准确质量数稳定性、高灵敏度和高速度扫描特点于一个质谱平台，具有以下技术特点：