【求助】谱仪进行能谱分析

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TEM是做材料微观组织分析,比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等,SEM一般是做面扫描,也可以配能谱仪进行能谱分析,比如说断面形貌,组织观察,元素百分比等等。
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最新回复

  • 双子座 (2015-1-22 14:37:34)

    其实本质上还是原理不一样,造成应用上的差别
    另外补充一下
    做TEM的样比SEM的样要复杂很多~
  • zouyou (2015-1-22 14:38:12)

    TEM是做材料微观组织、晶体结构分析;
    SEM主要用于表面形貌观察,亦可通过能谱检测局部元素组成与含量
  • zouyou (2015-1-22 14:38:34)

    SEM 观察材料表面信息
    TEM 观察材料内部信息
  • efp (2015-1-22 14:39:08)

    TEM是做材料微观组织分析,比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等,SEM一般是做面扫描,也可以配能谱仪进行能谱分析,比如说断面形貌,组织观察,元素百分比等等。
    补充:透射电镜做晶体结构分析较好,扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。
  • 兔子 (2015-1-22 14:39:50)

    透射电镜是利用透射电子来成像的,为此样品制作比较麻烦,需要做的很薄。可以TEM检测来判断材料的内部空间结构。比如得到衍射花样,再通过标定,可以得到其为面心,体心,是否有孪晶等。
    扫描电镜主要是利用二次电子成像,以获取材料的表面形貌。通常扫描的附件会带有能谱仪,通过特征射线获取材料的成分分布情况,另外扫描电镜可以观察端口形貌。
  • jishiben (2015-1-22 14:40:28)

    扫描电镜就扫表面
    透射电镜电子束透过
    透射的放大倍数高
    扫描的好分析
    透射可以分析结构
    扫描只能看形貌
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