赛默飞2016表面分析应用交流会：全方位呈现技术进展
分析测试百科网讯 2016年4月22-26日，2016全国表面分析应用技术学术交流会在古都西安召开。交流会由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、中国科学院化学研究所、北京师范大学、北京化工大学、广东省表面分析专业委员会、赛默飞世尔科技（中国）有限公司（以下简称：赛默飞）共同举办，吸引了专家、学者、技术人员近百人到场参加。赛默飞表面分析业务总监Kevin Fairfax、赛默飞纳米材料分析全球销售和市场总监Richard White、赛默飞表面分析产品经理Tim Nunney、赛默飞XRD系统全球应用经理Christophe Fontugne、赛默飞表面及微区分析中国区销售经理汪霆等赛默飞高层及赛默飞高级市场活动营销经理方晶、赛默飞分子光谱/表面分析市场专员张爱琴等市场部人员，悉数参加了本次活动。分析测试百科网全程参与并报道本次活动。
在交流会上，表面技术专家做了精彩的报告，内容广泛涉及到XPS分析方法与标准、谱图解析及鉴别、数据分析和处理方法、仪器使用技巧、设备保养与维护以及表面分析技术在催化、材料、沉降颗粒组分等方面的前沿应用。赛默飞几位技术专家也分别就XPS、Raman、EDS、XRD等产品的最新技术革新和最新应用进展做了报告。会议同期还设置了新产品发布，在分组讨论的过程中，与会者畅所欲言，交流分析工作中遇到的问题，分享了各自的经验，同时也向赛默飞提出了许多建设性的建议。
赛默飞世尔科技2016全国表面分析应用技术学术交流会现场
赛默飞表面分析业务总监Kevin Fairfax
赛默飞表面分析业务总监Kevin Fairfax 为开幕式致辞。他在致辞中表示，至今为止赛默飞在XPS领域已经有了50年的发展历史，而他本人已经在这条产品线上工作了30年，他强调赛默飞在该技术上取得的进步和进行的创新离不开客户的支持。
新团队 新技术
赛默飞表面及微区分析中国区销售经理汪霆谈到，为了在全球向用户提供整个材料科学研究领域的整体解决方案，赛默飞今年在中国成立了全新的材料部门，新的部门产品线囊括了XPS、EDS、XPS/Raman联用、XRF、XRD的产品线，以帮助客户全面的应对材料分析研究中的挑战。
Kevin Fairfax 介绍了赛默飞在ESCALAB 250+、XPS-Raman 联用技术、UPS、K-Alpha、XPS-Auger-EDS联用等技术的最新技术革新情况，并宣布了新产品Theta Probe ARXPS/Raman 系统和ARL EQUINOX 1000 XRD的推出。
Theta Probe ARXPS/Raman 系统
Theta Probe拉曼光谱的激光光斑尺寸与最小的微聚焦X射线光斑（15μm）匹配，使得通过两种方法分析样品小特征有着相同的横向分辨率。将多项技术综合应用于一个测量实验，并确保在同一个样品点分析，可以对两种技术得到数据进行更为全面的整合和比较。此外，通过在同一时间和同一位置进行测量，可大大减少不同测量方法之间的样品改变或污染的风险。全新推出的Theta Probe ARXPS/Raman 系统具有高效能超薄薄膜分析能力，其特点如下：
- 平行角分辨XPS
- 非破坏性超薄薄膜深度分析
- 完整的角分辨XPS 软件包
- 针对小特征分析的微聚焦X 射线源
- 原位拉曼XPS同步检测（新技术）
- MAGCIS 双模式离子源（新技术）
而另一款X射线衍射仪，囊括了从常规分析的台式仪器到纳米材料，制药，涂层和其他先进材料分析的综合平台，补充了现有的产品线，为客户提供了一系列从工业到研究的材料科学应用。
Thermo ScientificTM ARLTM EQUINOX XRD
交流会精彩报告
赛默飞表面分析产品经理Tim Nunney
赛默飞表面分析产品经理Tim Nunney带来题为《Multi-technique Analysis of Advanced Materials using XPS, Raman and EDS》的报告，在报告中介绍了赛默飞XPS、Raman、EDS各系列产品在材料分析中的应用。
北京化工大学 程斌
北京化工大学程斌带来题为《有机高分材料XPS谱图解析及鉴别》的报告。有机高分子材料已经成为材料重要的组成部分，是近年来研究非常活跃的领域。而XPS已经成为有机高分子材料重要的表征手段之一，包括进行表面性质/性能研究、表面改性研究以及材料鉴别。XPS 能够获得材料的组成信息和材料所处的化学环境信息。随后，程老师介绍了利用Survey 判定高分子材料种类、C1s窄扫描判定高分子材料结构以及其他谱图辅助判定高分子材料结构，进行高分子材料XPS谱图解析的步骤及方法。程斌指出，有了XPS信息，还需要结合对有机高分子的了解，才能确定结构。
中国科学院大连化物所 盛世善
中国科学院大连化物所的盛世善带来题为《浅论催化与表面分析》的报告。表面分析技术可以在原子-分子水平上对催化材料的表面组成与结构及其催化作用的研究，进而理解催化材料表面原子水平上的组成和结构与催化材料性能（即它的活性与选择性）的关系，是催化科学发展的重要内容。盛老师介绍了利用表面分析技术进行活性组分在反应过程中的化学态变化，失活原因的探讨，包括活性组分流失、积碳、中毒、烧结等。他还在报告中介绍了作为表面分析样品预制备手段之一的准原位技术的相关研究进展等内容。
北京师范大学 吴正龙
北京师范大学的吴正龙带来《XPS分析方法通则及XPS标准术语的介绍》。吴老师介绍了现行的《X射线电子能谱分析方法通则》GB/T19500－2004中对于XPS的一般表面分析方法、常用术语定义等内容进行了讲解，以便使用者在运用中形成规范与统一。
青岛费米新材料科技有限公司 高峰
青岛费米新材料科技有限公司的高峰带来题为《基于光电子能谱的先进表面界面分析技术在工业技术体系中的应用》的报告。高峰在报告中介绍了过渡金属精确分峰技术、康菲石油磷化膜唯一性确定、基于磷化膜的无氧化物涂层技术、植酸磷化膜与磷酸酯分析等光电子能谱在工业中的实际应用情况。
赛默飞纳米材料分析全球销售和市场总监Richard White
赛默飞纳米材料分析全球销售和市场总监Richard White带来题为《Automated UPS and SnapMap: High Performance Spectroscopy with K-Alpha+》的报告，并在报告中介绍了K-Alpha+ 作为K-Alpha的升级版本在性能上的全面提升。
中山大学 龚力
中山大学的龚力带来题为《光电子能谱在材料研究中的应用》的报告。龚力在报告中介绍了光电子能谱在能源材料、环境材料、薄膜晶体管中的应用，以及通过结合其他技术进行界面结构分析。
华东理工大学 蒋栋
华东理工大学的蒋栋带来题为《非线性最小二乘法拟合在Ni2p峰拟合中的应用》的报告。蒋栋在报告中提到，NLLSF可以有效解决一些峰形复杂的元素的分峰拟合，取得比较好的结果，其应用的难点在于混合物中的纯组分参考谱图较难获得，并提出了对XPS Knowledge View的建议。
中国科学院福长春应用化学研究所 李兴林
中国科学院福长春应用化学研究所的李兴林为大家带来《关于使用电子能谱的一点体会》。李兴林介绍了电子能谱过程中在样品制备、中和、刻蚀问题、峰形、灵敏度和分辨率、变角等实际问题的经验与体会。
国家纳米科学中心 徐鹏
国家纳米科学中心的徐鹏带来题为《沉降颗粒组分的变温XPS分析》的报告。大气颗粒物的常用分析手段包括用于形貌分析的电镜、SEM、TEM和用于组分分析的EDX、XRF、离子色谱、气相色谱等。对于XPS，分析不同尺寸的颗粒物，已经得到了一些信息。为了进一步分析大气颗粒的组成，通过色谱分离已知颗粒物表面存在一定量的有机物，通过去除表面有机物，获得颗粒物的最内核信息，从而分析颗粒物的聚集过程，并探索仪器气氛反应等相关的实验条件。
中国科学院金属研究所 张滨
中国科学院金属研究所的张滨带来题为《表面分析技术在离子吸附行为研究的应用》的报告。张滨介绍了如何利用XPS技术对界面效应显著影响表面氯离子吸附行为和氯离子在钝化膜内的扩散行为的解释，界面效应有利于Cr元素在钝化膜/金属界面以及在钝化膜内层的富集并加速其扩散，以及如何利用UPS技术从原子核电子的角度，解释Fe/Cr合金及其溅射纳米晶薄膜的相关腐蚀问题。
赛默飞 葛青亲
赛默飞的葛青亲带来题为《几种碳材料的XPS图谱拟合与分析》的报告。XPS数据拟合方法包括单峰拟合、双峰拟合、非线性最小二乘拟合。葛青亲介绍了常规污染C的谱峰拟合、碳纳米管/石墨烯等不对称峰的拟合分析、复杂高分子材料的价态谱NLLSF拟合等数据分析方法。
赛默飞XRD系统全球应用经理 Christophe Fontugne
赛默飞XRD系统全球应用经理Christophe Fontugne带来题为《ARL EQUINOX XRD产品与市场—为工业和应用研究提供实时X-射线衍射解决方案》的报告，并在报告中介绍了EQUINOX 1000、EQUINOX 3000、EQUINOX 6000等在内的实际产品应用。
中山大学 陈建
中山大学的陈建为大家详细讲解了国家标准《表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定》，该标准由ISO 17331：2004转化而来（IDT）。据陈建介绍，TXRF元素分析仪可以广泛应用于地矿、冶金、化工、食品、生物、医药、环保、法检、考古、高纯材料等领域内的常量、微量、痕量元素分析测定，特别是在半导体工业中的硅片表面质量控制方面，有着不可替代的优势，目前已在国际上得到广泛应用。陈建针对该标准进行了详细讲解。
武汉大学 刘雍
武汉大学的刘雍带来题为《超导体的光电子发射研究》的报告。超导体一般指可以在临界温度以下，呈现电阻为零的材料，零电阻和完全抗磁性是超导体的两个重要特性。刘雍随后介绍了超导体的光电子发射研究进展。
北京师范大学 吴正龙
北京师范大学的吴正龙带来题为《过渡元素XPS分析II--数据处理》的报告。过渡元素化学性质活泼，不同元素或化学环境物理环境影响谱峰。吴正龙介绍了通过探究谱峰结构及分析方法、建立谱图库应用于指认价态、定量分析的工作。
赛默飞 马书荣
赛默飞的马书荣带来题为《超快速成像拉曼在石墨烯领域的应用》的报告。据马书荣介绍，拉曼频率的确认可以进行物质的定性、晶型的鉴别，拉曼峰强度可进行物质的定量，频率的改变可以得知材料的应力、张力、掺杂、癌变等信息，偏振拉曼可进行晶格取向，拉伸，分子结构对称性研究。DXR2xi超快速拉曼成像技术最快光谱采集速度大于550张/秒。马书荣还介绍了超快速成像拉曼在石墨烯表征、层数分析、石墨烯在聚合物中的分散中的应用，以及碳同位素拉曼成像研究石墨烯形成机理。
赛默飞 张志强
赛默飞的张志强带来题为《光电子能谱设备保养与维护系列之--保持最优探测效率》的报告。张志强介绍了保持光电子能谱最佳计数率需要注意以下几项：1、制备致密而平整的样品；2寻找合适的样品高度（自动寻高或手动寻高）；3、保持分析器和X射线光斑机械位置对中；4、保持倍增器和各个通道工作正常（避免收谱时过高的计数率有利于延长倍增器寿命）；5、选择合适的透镜模式和高压模块参数；6、避免阳极靶氧化或污染；7、在阳极靶当前点消耗到一定程度后更换新鲜的点。
2016全国表面分析应用技术学术交流会合影
与会者进行交流
