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日本理学将在2016匹兹堡会议发布最新XRD和XRF

2016.3.02

  分析测试百科讯 2016年2月24日,日本理学公司宣布将出席2016年3月6日-3月10日的美国第66届年度匹兹堡会议(Pittcon 2016)。

  日本理学公司是全球级的研制和生产X射线科学分析仪器的制造商,本次Pittcon 2016上,理学将在展位#1318上展出最新多样化的X射线衍射(XRD)和X射线荧光(XRF)仪器。

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