上海光谱“CCD检测器”研制项目顺利通过验收

2011-2-24 16:18 来源: 上海光谱仪器有限公司
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        2011年2月22日由上海光谱仪器有限公司主标,上海理工大学、中国电子科技集团公司第44研究所参标承担的国家“十一五”科技支撑计划项目“高分辨分光器件及接收部件(器件)的研制与开发―CCD检测器”课题(课题编号2006BAK03A03)顺利通过了由国家质检总局科技司组织的课题验收,各方专家对该课题取得的丰硕成果给与了充分肯定与赞赏。

        长期以来,高性能元器件一直是制约我国光谱仪器性能提升的关键所在,也是光谱仪器向多元素、快速测定、小型化等方向发展的瓶颈。为改变我国光谱仪器这种“空芯化”的状况,科技部在十一五期间提出了包括紫外相应CCD、COMS,高稳定光源、中阶梯光栅等在内的一批关键元器件的研制。经过上海光谱和各参标单位的共同努力,在CCD、COMS紫外响应,中阶梯光栅等元器件的研制上取得了重大突破,形成了包括四项发明专利在内的多项自主知识产权,具备了产业化得基本条件。与会专家一致认为,应持续深入地将这项工作向工程化,产业化方向继续推动下去,尽快形成生产能力,以改变当前的被动局面。

    本项目是上海光谱第一次主持的国家级科学仪器研发项目,与会的专家对于项目管理和项目财务管给予高分评价。


验收会会场

市场部
2011年2月24日