岛津公司于2011年5月新品推出了SPM-9700扫描探针显微镜
    扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。 

   

    X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,下称XPS)是广泛应用于材料科学领域的高技术分析仪器,主要用于固体材料的表面(2~3nm深度)元素成分和价态的定性和定量分析,与成像功能和离子溅射刻蚀相结合,也可以用于固体表面元素成分及价态的二维面分析和深度剖析,在纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、各类功能薄膜的机理研究、催化剂研究与失效等方面具有不可替代的作用。
 
    通常情况下,纳米材料的颗粒直径均在100nm左右,原子排列仅具备短程序而无长程序,其表面特性与块状材料有很大不同。由于颗粒过于微小,其他分析手段如SEM或EPMA的信息深度在1μm左右,测量结果只能是多个颗粒由表及里的平均结果,因而只能使用XPS等表面分析手段进行材料最外层数个原子层的成分与价态表征。
 
    相信岛津纳米分析领域的扫描探针显微镜(包含原子力显微镜、扫描隧道显微镜功能)、X射线光电子能谱的应用会令您的纳米研究如虎添翼!