一、2011年全国材料科学电子显微学会议通知

　　随着电子显微学事业的飞跃发展，材料的电子显微表征技术日新月异。具有场发射枪的高空间分辨分析型TEM，使人们可以采用高分辨技术、微衍射、电子能谱、电子能量损失谱对纳米尺度的区域进行形貌、结构、成分分析。球差校正TEM又将点分辨率提高到0.08nm。利用环境扫描电镜，能在低真空下加热、冷却、加气、加液观察样品变化。配备EBSD附件的SEM可以方便地给出材料的晶粒尺寸、晶粒取向、织构等信息。STM的问世，实现了在实空间观察到原子排成晶格结构图像。AFM通过检测探针与样品的作用能在水平方向0.1nm，垂直方向0.01nm的分辨率表征样品三维形貌。先进的仪器设备，加上方方面面对科研事业大力支持，我国电子显微学领域的研究工作已开始步入世界相关学科前沿行列中。

　　伴随原位观察与材料性能测试的需求，应运而生的各种电镜样品台的出现和应用引起我国新一轮材料电子显微学研究高潮的到来。尤其对纳米材料的结构、电、磁和力学性能的原位测量，获得一系列崭新的研究成果，为新材料发展与应用推广提供理论、实验依据。更可喜的是具有特定功能的电镜样品台，不再完全依赖外国厂商。一些单位和科研人员开始自己设计、制造。有的已经用于材料研究工作，获得成功，形成ZL产品。在这种形势下，召开全国材料电子显微学会议展示、交流最新科研成果，促进我国材料科学发展与进步，是适时的、必要的。