尊敬的女士/先生:
非常荣幸地邀请您参加于2010 年7 月22 日(周四)下午在深圳东方银座酒店举行的“分立器件测试技术研讨会”
本次研讨会将由美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享半导体分立器件的测试技术，STI分立器件测试仪的应用，并为您现场解答您关心的测试问题。
本次研讨会我们邀请了艾默生网络能源，山特，意法，安森美等知名企业，希望大家能够相互交流测试经验。对于与会者我们将有精美礼品奉送!
时间：2010 年7 月 22 日星期四 14:00-17:00
地址：深圳福田区深南大道竹子林东方银座酒店雅典厅
公交路线：乘公交车到竹子林站(深南大道北侧)即可到达酒店
地铁路线：乘坐地铁到竹子林站B出口，即可到达酒店
驾车路线：深南大道北侧，竹子林