云帆兴烨分立器件测试技术研讨会邀请函

2010-7-05 14:07 来源: 深圳市云帆兴烨科技有限公司
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尊敬的女士/先生:

  非常荣幸地邀请您参加于2010 年7 月22 日(周四)下午在深圳东方银座酒店举行的“分立器件测试技术研讨会

  本次研讨会将由美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享半导体分立器件的测试技术,STI分立器件测试仪的应用,并为您现场解答您关心的测试问题。

  本次研讨会我们邀请了艾默生网络能源,山特,意法,安森美等知名企业,希望大家能够相互交流测试经验。对于与会者我们将有精美礼品奉送!

  时间:2010 年7 月 22 日星期四 14:00-17:00

  地址:深圳福田区深南大道竹子林东方银座酒店雅典厅

  公交路线:乘公交车到竹子林站(深南大道北侧)即可到达酒店

  地铁路线:乘坐地铁到竹子林站B出口,即可到达酒店

  驾车路线:深南大道北侧,竹子林

  酒店电话:0755-8350 0888

  主办方:深圳市云帆兴烨科技有限公司www.sinyee.cn

  美国科学仪器测试公司

会议日程

日期
时间
主题
讲师
7月22
14:00-15:00
分立器件测试与ATE
John
7月22 
15:00-15:15
Tea Break
 
7月22 
15:15-16:15
STI5000C 器件特性曲线扫描
John
7月22 
16:15-16:45
现场答疑
John
7月22 
16:45-17:00
国内客户案例分享
艾默生

报名方式

  请填写下表e-mail至 caipf@sinyee.cn 或传真0755-83323909

  如有疑问请致电(0755)83248861/13751095731 蔡鹏飞

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