日本电子在Pittcon 2011展会上推出质谱和电镜新品

2011-3-18 16:03 来源: 分析测试百科
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  2011年3月13日~3月18日,在美国亚特兰大举办的Pittcon 2011展会上, 日本电子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。

  Spiral Tof-Tof

  Spiral Tof-Tof 有15m的飞行时间,比常规的MALDI TOF/TOF仪器超出一个数量级的时间,因此能够进行同位素前体离子的选择,选择的前体来自同一母离子,光谱分析结果更加简单。

  JMS-S3000是日本电子配备独特的离子光学系统Spiral TOF的一款MALDI-TOF 质谱仪。它具有高分辨率和灵敏度,在科学研究中拥有公认的特殊性能,成为一款领先的分析工具,普遍适用于聚合物合成,材料科学和生物高分子领域研究。

日本电子  JMS-S3000

  InTouch Scope SEM

  日本电子InTouchScope可移动扫描电镜提供的成像和分析结果触手可及,无线功能和一个涡轮泵使之成为一个真正独立的扫描电子显微镜,不受使用地点限制。InTouchScope拓展新的扫描电镜和多点触摸技术,以及最新的,高度直观的图形界面。用户可以通过触摸屏幕扩展应用程序窗口和协调所有功能,低真空扫描电子显微镜(SEM)集成了最新的硅漂移探测器(SDD)技术和能量色散谱(EDS)电子显微镜全新的功能。成像分辨率高,低真空运行,还有一个大的中央标本库,这些标准车载功能,使之成为一个高度灵活的扫描电镜。

日本电子  InTouch Scope SEM

本文中提到的仪器产品