【求助】XRD粉末精修的键参数不确定度的数值范围

本人最近学习精修,发现自己的精修结果里键参数(键长,键角)的不确定度较大,查阅相关文献发现凡是利用XRD精修的,不确定度有大有小(参见红色框内),不知怎样将其数值变小,以便增加精修精确度?虚心向各位学习!谢谢!
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最新回复

  • qinqinai (2015-5-12 21:29:12)

    跟你 精修得到的 chi^2有关, chi^2 越大,误差自然就大。换句话说 就是跟你的 精修好坏有关
  • 兔子 (2015-5-12 21:29:51)

    是和所用的X射线功率有关吗?我用的是日本理学max2500,18kW大功率衍射仪
  • wwwh (2015-5-12 21:30:29)

    没关系,跟你数据的质量有关,峰/背景,扫面范围  等有关   也就是Rexp 的值
  • wwwh (2015-5-12 21:31:10)

    会不会有与样品本身性质有关的因素呢?因为我拟合了La2CoMnO6和La2NiRuO6两种双钙钛矿结构的X射线粉末衍射,仅是过渡元素和空间群的区别,但是前者的不确定度能达到0.001(即键长的误差在小数点后第三位,例如2.987(6))而后者仅能达到0.01,不知道是什么原因。:sweat::rol:
  • zouyou (2015-5-12 21:31:55)

    我的拟合指数为Chi^2=3.957 Rp= 0.0663, wRp= 0.0885 不知怎么样。。。
  • jishiben (2015-5-12 21:32:46)

    你 CHi^2 大了  应该要小于1.5,  虽然你 wRp小于了10%, 但是CHi^2较大,这是因为你Rexp 较小所致, 应该是你的 观察数据的 点少了 ,也就是说 你扫面范围小了 ,而你精修参数较多, 使得你数据的 置信度不够
  • 跳跳哈里 (2015-5-12 21:33:33)

    如果需要更好的结果是否应该一方面增加扫描范围,扫到140度。另一方面增加每步停留时间(步进扫描)?精修参数较多的问题怎么解决呢?
  • 灵魂 (2015-5-12 21:34:19)

    我又对择优取向校正进行了精修,键参数的不确定度改善了些,但仍只能到小数点后两位,仔细看了第一篇的数据,发现也是到0.01A,只不过他换成了nm单位,呵呵。这样这三篇文献的不确定度就和我的数据在一个量级了,没办法,X射线对于此类化合物看来只能精确到这样了。虚心听取各位高见!