ISO 17974:2002
表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

Surface chemical analysis - High-resolution Auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis


标准号
ISO 17974:2002
发布
2002年
中文版
GB/T 29731-2013 (修改采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 17974:2002
 
 
适用范围
本国际标准规定了用于表面元素和化学状态分析的俄歇电子能谱仪动能标度的校准方法。 它还指定了一个校准计划,用于测试一种中间能量下的动能标度线性度,用于确认一个低动能值和一个高动能值下的标度校准的不确定度,用于校正该标度的小漂移以及定义扩展的不确定度动能标度的校准,置信度为 95%(这种不确定性包括实验室间研究中观察到的行为的贡献,但不涵盖所有可能的缺陷)。 它仅适用于那些配有离子枪进行溅射清洁的仪器。 它不适用于动能标度误差与能量呈显着非线性关系的仪器。 它既不适用于在恒定 ΔEIE 模式下相对分辨率低于 0.2 % 或在恒定 ΔE 模式下低于 1.5 eV 的仪器,也不适用于要求容差限值为 ±0.05 eV 或更低的仪器,也不适用于那些要求 ±0.05 eV 或更小的仪器。 那些带有不能在 5 keV 至 10 keV 能量范围内操作的电子枪的电子枪。 它不提供完整的校准检查来确认能量标尺上每个可寻址点测量的能量,这是根据制造商的建议执行的。

ISO 17974:2002相似标准


推荐

表面成分分析微区成分分析

特点:在靠近表面5-20埃范围内化学分析灵敏度高,很高空间分辨率,最小可达到6nm;能探测周期表上He以后所有元素元素分布;通过成分变化测量超薄膜厚4.X射线光电子能谱(XPS)原理:激发源为X射线,X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析电子能量分布得到光电子能谱研究样品表面组成结构。...

X射线光电子能谱技术(XPS)历史、原理及应用

一、XPS历史X 射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析电子能谱(ESCA)。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来。这种能谱最初是被用来进行化学元素定性分析,现在已发展为表面元素定性、半定量分析元素化学价态分析重要手段。此外,配合离子束剥离技术变角XPS 技术,还可以进行薄膜材料深度分析界面分析。...

在翡翠鉴定中应用

能量色散 X射线荧光光谱仪EDXRF:在高分辨率下检测元素,并拥有更高光谱解析度,适用于矿物、地质、环保等领域。  3. 激光光谱仪:利用激光与分析样品作用,分析样品中元素成份化学结构。  4. ESCA电子能谱仪,是一种以类似于荧光屏等示波管为光源,通过样品上光子(光子能量约为1,500-16,000电子伏特)从而引起电荷电子反弹出,根据反弹角度能够分析样品中元素种类分布情况。  ...

X射线荧光光谱仪在翡翠鉴定中应用

能量色散 X射线荧光光谱仪EDXRF:在高分辨率下检测元素,并拥有更高光谱解析度,适用于矿物、地质、环保等领域。  3. 激光光谱仪:利用激光与分析样品作用,分析样品中元素成份化学结构。  4. ESCA电子能谱仪,是一种以类似于荧光屏等示波管为光源,通过样品上光子(光子能量约为1,500-16,000电子伏特)从而引起电荷电子反弹出,根据反弹角度能够分析样品中元素种类分布情况。  ...


ISO 17974:2002 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 17974:2002 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号