QJ 3065.5-1998
元器件失效分析管理要求
Component Failure Analysis Management Requirements
- 标准号
- QJ 3065.5-1998
- 发布
- 1998年
- 发布单位
- 行业标准-航天
- 当前最新
- QJ 3065.5-1998
QJ 3065.5-1998相似标准
推荐
导致元器件失效的因素分析
可能引起的故障模式，及失效分析：电气过应力（Electrical Over Stress，EOS）是一种常见的损害电子器件的方式，是元器件常见的损坏原因，其表现方式是过压或者过流产生大量的热能，使元器件内部温度过高从而损坏元器件（大家常说的烧坏），是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的损害电子器件的方式。...
关于电子元器件质量和可靠性技术分析
元器件材料电子制造质量分析拥有完整的元器件检测、筛选、鉴定、失效分析(FA)和破坏性物理分析(DPA)仪器设备资源，可为企业提供元器件DPA、批次筛选、鉴定以及失效器件的失效机理分析提供完整的服务，帮助企业把控和提高上机元器件质量水平和通过查找失效根因提高整机可靠性水平。 ...
电子元器件的可靠性筛选（一）
本文简述了电子元器件筛选的必要性，分析了电子元器件的筛选项目和应力条件的选择原则，介绍了几种常用的筛选项目和半导体的典型筛选方案设计。 随着工业、军事和民用等部门对电子产品的质量要求日益提高，电子设备的可靠性问题受到了越来越广泛的重视。对电子元器件进行筛选是提高电子设备可靠性的最有效措施之一。可靠性筛选的目的是从一批元器件中选出高可靠的元器件，淘汰掉有潜在缺陷的产品。...