IEC 60748-11-1:1992
半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
- 标准号
- IEC 60748-11-1:1992
- 发布
- 1992年
- 中文版
- GB/T 19403.1-2003 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60748-11-1:1992
- 适用范围
- 测试的目的是检查内部材料、结构和工艺是否符合适用规范的要求。这些测试通常在封盖或封装之前进行，在 100% 检查的基础上进行
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