-04-0122GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法2019-01-0123GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动2019-01-0124GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾2019-01-0125GB/T 4937.14-2018半导体器件 ...
(3)典型电效应有:1)电气和电子元器件的变化;2)快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障;3)静电过量。5、冷热冲击测试方法的类型根据IEC和国家标准,分为三种:1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化;空气;2、试验Nb:规定变化速率的温度变化;空气;3、试验Nc:两液槽法快速温度变化;液体;上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。...
双液槽法GB/T4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动GB/T4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾GB/T4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)GB/T4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热GB/T4937.17-2018...
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