以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型,下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。 误区1:强调“荧光” 过分迷信依赖大型仪器。许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪,一味地强调所谓“荧光”。...
X荧光射线(XRF)测厚仪器特点 1、镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟,分析精度高。 X荧光分析仪镀层测厚仪是光物理测量,其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化,因此,其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理,分析速度更加快捷。 ...
2 仪器及工作条件(1) 手持式X射线荧光光谱仪 Ag靶X射线管;管压:50 kV;管流:200 mA;探测器:SDD;“常用金属”分析模式。(2) 连续光源火焰石墨炉原子吸收光谱仪 连续光源:短弧氙灯;火焰:乙炔/空气,乙炔/笑气。3 样品测试方法 (1) 手持式X荧光光谱法 样品不需要进行前处理。...
X射线荧光光谱仪产品特点: 1.操作界面简单,测量方便,快捷 2.无损检测,在无标准样品时亦可准确分析 3.采用139±5eV的高精度分辨率,保证数据测量的精度。 ...
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