IEC 60759:1983
半导体X射线能谱仪的标准试验程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers


标准号
IEC 60759:1983
发布
1983年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60759:1983/AMD1:1991
当前最新
IEC 60759:1983/AMD1:1991
 
 
适用范围
此类系统由半导体辐射探测器组件和与脉冲高度分析仪/计算机连接的信号处理电子设备组成。本标准不包括脉冲高度分析仪和计算机的测试程序。同伴酒吧

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