图505透射电镜(TEM)应用场景①利用质厚村度(又称吸收衬度)像,对样品进行形貌观察;②利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析,从而确定材料的物相、晶系,甚至空间群;③利用高分辨电子显微方法可直接看到晶体中原子或原子团在特定方向上结构投影的这一特点,确定晶体结构。...
SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。...
SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。 l 简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。...
▽ 明暗场光路示意图▽ 硅内部位错明暗场图来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书](2)高分辨TEM(HRTEM)图像HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息);结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。 ...
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