GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GBT20724-2006, GB20724-2006

2022-07

标准号
GB/T 20724-2006
别名
GBT20724-2006, GB20724-2006
发布
2006年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 20724-2021
当前最新
GB/T 20724-2021
 
 
引用标准
GB/T 18907-2002
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9m~×10-3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

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