GJB 5914-2006
各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法

Methodsof destructive physical analysis for military semiconductor devices of all kinds of quality class


标准号
GJB 5914-2006
发布
2006年
发布单位
国家军用标准-国防科工委
当前最新
GJB 5914-2006
 
 
引用标准
GJB 128A-1997 GJB 4027A-2006 GJB 4152-2001 GJB 548A-1996 GJB/Z 299B-1998
适用范围
本标准规定了GJB/Z 299B-1998 《电子设备可靠性预计手册》中所包括的各种军用质量等级半导体器件破坏性物理分析(DPA)方法,包括DPA程序的一般要求以及不同质量等级半导体器件DPA试验与分析的通用方法和缺陷判据。 本标准适用于有DPA要求的各种军用质量等级的半导体器件。

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