点分析是将电子束固定在试样感兴趣的点进行分析,点分析准确度高,是显微结构成分分析常用的方法。例如对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、奇异相等分析。线分析是电子束沿一条分析线进行扫描,与试样形貌对照,可以直观的获得元素在不同相或区域内的分布,从沿感兴趣的线分析可以获得沿线的成分变化曲线,如对电镀层的分析。...
扫描电子显微镜在材料的分析和研究方面应用十分广泛,主要应用于材料断口分析、微区成分分析、各种镀膜表面形貌分析、层厚测量和显微组织形貌及纳米材料分析也能与 X 射线衍射仪或电子能谱仪相结合,构成电子微探针,用于物质成分分析等。扫描电镜(Scanning Electron Microscope)简写为 SEC,是一种新型的电子光学仪器。由真空系统,电子束系统以及成像系统三大部分组成。...
由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍。因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法,如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。 ...
例如,某军工企业在其招标书中对扫描电镜的要求如下:"该套设备用于对材料微区化学成分、冶金缺陷、产品材料内部组织结构进行分析和测定,还用于工艺变化而使材料内部和表面结构、形貌产生的变化及缺陷等进行分析和测定。同时可根据结果来指导工艺。 ...
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