GB/T 23413-2009
纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法

Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials.X-ray diffraction line broadening method

GBT23413-2009, GB23413-2009


标准号
GB/T 23413-2009
别名
GBT23413-2009, GB23413-2009
发布
2009年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 23413-2009
 
 
引用标准
GBW(E) 130014 GBW(E) 130016
适用范围
本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm,微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料。

GB/T 23413-2009相似标准


推荐

实验室光学仪器--X射线衍射晶粒大小计算

b.该方法获得晶粒尺寸是平均晶粒尺寸,是不同晶面上各衍射方向晶粒度大小平均值,若需要计算某一晶面上晶粒尺寸,可采用“计算峰面积”命令。另外,也可以利用谢乐公式计算:谢乐公式应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰 半高宽, θ 为衍射角)双线(Williams-Hall)测定金属晶体中微观应力。晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变衍射线宽。...

如何精确区分晶粒尺寸微观应变引起衍射线宽

多晶材料是由各晶粒组成晶粒材料性能影响很大,特别是随着科学技术发展,很多材料可在晶粒尺寸上大做文章。比如,近年来比较热门纳米材料,当晶粒尺寸达到纳米量级,材料各方面的性能都会有很大变化。既然,晶粒尺寸很重要,那么,如何去测定晶粒尺寸呢?...

X射线衍射应用领域究竟有多广泛

材料微观残余应力是引起衍射线线形宽主要原因,因此衍射线半高宽即衍射线最大强度一半处宽度是描述微观残余应力基本参数。   4  纳米材料粒径表征   纳米材料颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常粒度分析仪往往会给出错误数据。采用X射线衍射线线宽(谢乐)可以测定纳米粒子平均粒径。   5 结晶度测定   结晶度是影响材料性能重要参数。...

X射线衍射仪在哪些行业中得以广泛应用

材料微观残余应力是引起衍射线线形宽主要原因,因此衍射线半高宽即衍射线最大强度一半处宽度是描述微观残余应力基本参数。  4  纳米材料粒径表征  纳米材料颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常粒度分析仪往往会给出错误数据。采用X射线衍射线线宽(谢乐)可以测定纳米粒子平均粒径。  5 结晶度测定  结晶度是影响材料性能重要参数。...


GB/T 23413-2009 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 23413-2009 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号