SJ/T 11405-2009
光纤系统用半导体光电子器件.第2部分:测量方法

Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications.Part 2:Measuring methods

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标准号
SJ/T 11405-2009
发布日期
2009年11月17日
实施日期
2010年01月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L50
国际标准分类号
33.180
发布单位
CN-SJ
适用范围
本部分规定了用于光纤系统/子系统的半导体光电子器件的测量方法。

SJ/T 11405-2009 中可能用到的仪器设备

浊度计、浊度仪 激光器 光谱部件及外设 光电直读光谱仪 ICP-MS 激光诱导击穿光谱LIBS X射线衍射仪(XRD) 红外光谱仪 光源/氙灯光源/汞灯光源 光纤光谱仪 扫描电镜SEM 光学仪器组件 近红外光谱仪 太赫兹光谱仪 折光仪(折射仪) 离子色谱仪IC 气相色谱仪GC 色谱检测器 高光谱仪/高光谱成像仪 凝胶渗透色谱仪 电容水分测定仪 其它物性测试仪器 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 热重分析仪/热天平（TGA）及热重联用仪 同步热分析仪（STA） 仪器工作站及软件 酶标仪 气溶胶分析仪 多参数水质分析仪 辐射仪/射线检测仪 炭黑分散度仪/炭黑分散仪 轮廓仪/粗糙度仪 信号采集处理


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