于是,一套“冷门”“高贵”但是又非常有效的方法成为了测量闪烁体衰减时间的里程碑式的方法:基于条纹相机以及脉冲X射线管的X射线激发光(XEOL)测试系统。▲图1整套系统由皮秒激光器激发脉冲X射线管,脉冲X射线管发出百皮秒量级的脉冲X射线打到样品上,样品的光再通过光谱仪分光进入条纹相机,由条纹相机采集得到图像数据。...
13JC/T 2026-2010脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法中国科学院上海硅酸盐研究所14JC/T 2027-2010高纯石英中杂质含量的测定方法会 电感耦合等离子体原子发射光谱法中国科学院上海硅酸盐研究所 ...
对于发光衰减测量,LAB/PPO 由 40 kV 脉冲 X 射线源激发,该源使用爱丁堡仪器 HPL-450 脉冲激光器进行光泵浦。来自闪烁体的 X 射线激发发光由液体光导系统收集,液体光导将光信号传至 FLS1000。FLS1000 配备了PMT-900检测器和时间相关单光子计数 (TCSPC) 电子设备。...
X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成: (1)X射线系统(X射线光管、高压变压器、管压管流控制单元);(2)水循环冷却系统(内外部冷却水单元、温度、电导率控制监测单元);(3)真空系统(真空泵、样品室);(4)检测系统(光谱室、分光晶体、衰减器、狭缝、测角仪、晶体交换器等);(5)检测记录系统(流〈充〉气正比计数器和闪烁计数器、脉冲高度分析器等);(6)数据处理系统。...
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