GB/T 27760-2011
利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic steps
GBT27760-2011, GB27760-2011
- 标准号
- GB/T 27760-2011
- 别名
- GBT27760-2011, GB27760-2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 27760-2011
- 引用标准
- ISO 25178-6:2010 ISO/IEC Guide 98-3:2008 ISO/TS 21748:2004
- 适用范围
- 本标准规定了利用Si(111)唱面原子台阶高度样品校准原子力显微镜=向标度的测量方法。 本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其=向放大倍率达到最大量级,即>向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。 本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 注:本标准中以国际单位制规定的数值作为标准值,括号内插人的数值仅供参考。
GB/T 27760-2011相似标准
推荐
原子力显微镜在纳米技术中若干应用与定量分析
并且利用原子力显微镜进行了微刻压实验，发现伴随微压痕的产生，在重晶石晶体(001)晶面表面上沿着某特定晶向会产生几埃量级的位错。 最后，作为相对独立的一章，介绍利用原子力显微镜阳极氧化方法加工的纳米量级二维零位对准标记。用基于自相关函数和衍射理论的分析方法，详细讨论二维零位光栅的设计和性能以及光栅加工误差和系统安装误差对性能的影响。理论分析结果表明该二维零位光栅结构简单，能满足高精度对准需要。...
对比学习扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)
（使用培养皿型的液体池） 图10 力-距离曲线 原子力显微镜可作为纳米级的“压痕器”，用来测量材料的弹性、塑性、硬度等性质。...
扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)的对比
（使用培养皿型的液体池）图10 力-距离曲线原子力显微镜可作为纳米级的“压痕器”，用来测量材料的弹性、塑性、硬度等性质。...
PicoQ®传感器性能优于电容传感器
在带有泡沫外壳的振动隔离台上进行环境条件下的测量。（点击放大）皮米级分辨率的应用 - 标准校准的直接测量：位置噪声对许多应用所需的高定位分辨率是至关重要的，包括原子力显微镜（AFM）。Mad City Labs计量级皮米定位器™可用于搭建可以检测皮米级特征的高分辨率AFM系统。...