包括“涕灭威有效成分含量的测定方法 液相色谱法”等液相色谱、高效液相色谱方法,以及“光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法”等ICP-MS方法。 ...
正因为这些优点,使ICP-MS分析技术广泛应 用于半导体工业用高纯材料的痕量杂质分析中.主要进行的高纯材料分析1. IC硅片表面杂质分析2. 光伏多晶硅、单晶硅杂质分析3. 三氯氢硅、四氯化硅: ICP.MS法测定高纯四氯化硅中们、V、cr、‘ Co、Ni、Cu、Pb、Zn、Mn九种金属元素.4....
2016表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法2017-01-01GB/T 32498-2016金属基复合材料拉伸试验室温试验方法2017-01-01GB/T 32508-2016绝缘油中腐蚀性硫(二苄基二硫醚)定量检测方法2016-09-01GB/T 32548-2016钢铁锡、锑、铈、铅和铋的测定电感耦合等离子体质谱法2016-11-01GB/T 32573-2016硅粉总碳含量的测定感应炉内燃烧后红外吸收法...
第2部分:铈中镧、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定推修稀土金属及其化合物化学分析方法 稀土总量的测定推修离子型稀土矿混合稀土氧化物化学分析方法 二氧化硅量的测定推制稀土长余辉荧光粉试验方法 第1部分 发射主峰和色品坐标的测定推修硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法推制硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 推制氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法推制聚氨酯发泡材料中有机磷酸酯阻燃剂的测定...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号