ISO 17862:2013
表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
- 标准号
- ISO 17862:2013
- 发布
- 2013年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 17862:2022
- 当前最新
- ISO 17862:2022
- 适用范围
- 本国际标准规定了一种方法，用于确定单离子计数飞行时间（TOF）二次离子质谱仪中强度标度线性可接受偏差极限的最大计数率，使用基于聚（四氟乙烯）（PTFE）。 它还包括一种方法，用于校正因微通道板 (MCP) 或闪烁体和光电倍增管后的时间数字转换器 (TDC) 检测系统因二次离子在死区期间到达而导致的强度损失而引起的强度非线性。 校正可以将 95% 线性度的强度范围增加多达 50 倍以上，以便对于那些已证明相关校正公式有效的光谱仪可以采用更高的最大计数率。 本国际标准还可用于确认已进行死区时间校正但可能或不可能进一步增加的仪器的有效性。