GB/T 17626.20-2014
电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验
Electromagnetic compatibility.Testing and measurement techniques.Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguide
GBT17626.20-2014, GB17626.20-2014
- 标准号
- GB/T 17626.20-2014
- 别名
- GBT17626.20-2014, GB17626.20-2014
- 发布
- 2014年
- 采用标准
- IEC 61000-4-20:2010 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 17626.20-2014
- 引用标准
- CISPR 16-2-3-2006 GB 9254-2008 GB/T 4365-2003 GB/T 6113.101-2008 GB/T 6113.104-2008 GB/T 6113.203-2008 IEC 61000-2-11:1999 IEC 61000-4-23 IEC/TR 61000-4-32 IEC/TR 61000-5-3
- 适用范围
- GB/T 17626的本部分给出了利用各种TEM波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。TEM波导有开放式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)模拟器)和封闭式(例如,TEM室),还可以进一步分为单端口、双端口和多端口波导。TEM波导的适用频率范围取决于具体的试验需求和TEM波导的具体类型。本部分的目的是给出:——TEM波导的性能,包括典型的频率范围和对EUT尺寸的限制;——用于电磁兼容(EMC)试验的TEM波导的确认方法;——EUT(即EUT壳体和连接电缆)的定义;——在TEM波导中进行辐射发射试验的试验布置、步骤和要求;——在TEM波导中进行辐射抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。本部分的目的不是规定适用于任意特定产品或系统的试验方法,而是为所有感兴趣的产品委员会提供通用的基础性参考。对于辐射发射试验,产品委员会应参考国际无线电干扰特别委员会(CISPR)标准选择发射限值和试验方法。对于辐射抗扰度试验,由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值。本部分描述的试验方法独立于GB/T 17626.3。
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