俄歇能谱仪与低能电子衍射仪联用,可进行试样表面成分和晶体结构分析,因此被称为表面探针。电镜-能谱分析方法:利用电镜的电子束与固体微区作用产生的X射线进行能谱分析(EDAX);与电子显微镜结合(SEM,TEM),可进行微区成份分析;可进行定性和定量分析。形貌分析形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。...
俄歇能谱仪与低能电子衍射仪联用,可进行试样表面成分和晶体结构分析,因此被称为表面探针。 电镜-能谱分析方法:利用电镜的电子束与固体微区作用产生的X射线进行能谱分析(EDAX);与电子显微镜结合(SEM,TEM),可进行微区成份分析;可进行定性和定量分析。形貌分析: 相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。 ...
电镜-能谱分析方法:利用电镜的电子束与固体微区作用产生的X射线进行能谱分析(EDAX);与电子显微镜结合(SEM,TEM),可进行微区成份分析;可进行定性和定量分析。形貌分析形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。...
俄歇能谱仪与低能电子衍射仪联用,可进行试样表面成分和晶体结构分析,因此被称为表面探针。电镜-能谱分析方法:利用电镜的电子束与固体微区作用产生的X射线进行能谱分析(EDAX);与电子显微镜结合(SEM,TEM),可进行微区成份分析;可进行定性和定量分析。形貌分析 相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。...
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