二极管 测试 方法

本专题涉及二极管 测试 方法的标准有56条。

国际标准分类中，二极管 测试 方法涉及到半导体分立器件、核能工程、印制电路和印制电路板、光电子学、激光设备、光纤通信、电子管。

在中国标准分类中，二极管 测试 方法涉及到半导体二极管、、半导体发光器件、半导体光敏器件、电力半导体器件、部件、光通信设备、激光器件、光电子器件综合、微波管。

国家质检总局，关于二极管 测试 方法的标准

• GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法

美国材料与试验协会，关于二极管 测试 方法的标准

• ASTM C1307-21 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
• ASTM C1307-15 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法

工业和信息化部，关于二极管 测试 方法的标准

• SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
• SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法

行业标准-电子，关于二极管 测试 方法的标准

• SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
• SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
• SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法
• SJ 2749-1987 半导体激光二极管测试方法
• SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
• SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
• SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
• SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
• SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
• SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
• SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
• SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
• SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
• SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
• SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
• SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
• SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
• SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
• SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
• SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
• SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
• SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
• SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
• SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
• SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
• SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
• SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
• SJ 2139-1982 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
• SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
• SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法
• SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
• SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
• SJ 2137-1982 硅稳流二极管测试方法.总则
• SJ 1391-1978 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
• SJ 1387-1978 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
• SJ 1392-1978 噪声二极管超噪功率的测试方法
• SJ 1390-1978 噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法
• SJ 1389-1978 噪声二极管极间漏电流的测试方法
• SJ 1388-1978 噪声二极管阳极电导的测试方法
• SJ 1230-1977 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
• SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
• SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法

，关于二极管 测试 方法的标准

• KS C 6943-2014(2019) 激光二极管模块的用于光纤传输测试方法
• KS C 6906-2001(2016) 激光二极管用于光纤传输测试方法
• KS C 6991-2001(2011) 用于光传输的测试方法所述的光电二极管
• KS C 6704-1991(2001) 播放 用于记录的激光二极管测试方法
• KS C 6045-1991(2001) 半导体整流二极管测试方法

行业标准-机械，关于二极管 测试 方法的标准

• JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法

行业标准-兵工民品，关于二极管 测试 方法的标准

• WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于二极管 测试 方法的标准

• JEDEC JESD24-10-1994 JESD24的补遗－功率MOSFET Drain-Sources二极管的逆向恢复时间trr测量的测试方法

行业标准-邮电通信，关于二极管 测试 方法的标准

• YD/T 701-1993 半导体激光二极管组件测试方法

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