17.040.30 测量仪器仪表 标准查询与下载



共找到 2098 条与 测量仪器仪表 相关的标准,共 140

本标准规定了螺纹测量用三针的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于检验螺纹中径用的,公称直径D为0.118mm~6.212mm的三针。

Three wires for screw thread measuing

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准规定了小扭簧比较仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于夹持套筒直径为8mm的小扭簧比较仪(以下简称比较仪)。

Small-sized micro indicators

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准规定了普通螺纹量规、统一螺纹量规、梯形螺纹量规和光滑极限量规的型式与尺寸。 本标准适用于与GB/T 3934-2003《普通螺纹量规 技术条件》、GB/T 8124-2004《梯形螺纹量规 技术条件》、GB/T 1957-2006《光滑极限量规》、JB/T 10865-2008《统一螺纹量规》配套使用。

Types and dimensions of screw thread gauge and plain limit gauge

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准规定了厚度指示表的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分度值/分辨力为0.1mm、0.01mm、0.002mm、0.001mm,测量范围上限不大于30mm的厚度指示表。

Dial thickness gauges

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准规定了合像水平仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分度值0.01mm/m;量程范围(0~10)mm/m或(0~20)mm/m的合像水平仪。

Imaging level meter

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准规定了容栅数显标尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方法以及标志和包装等。 本标准适用于分辨力为0.01mm、0.005mm,工作范围上限为2000mm的容栅数显标尺。

Capacitive digital scale unite

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-12
实施
2009-05-01

本标准界定了长度测量器具、角度测量器具、形位误差测量器具、表面结构质量测量器具、齿轮测量器具、螺纹测量器具、其他测量器具、测量链和通用器件及附件等几何量测量器具的产品术语及定义。 本标准适用于几何量测量器具行业的产品及正式出版发行的标准和书刊。

Glossary of terms used in dimensional measuring instruments.Product terms

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-02
实施
2009-05-01

本标准界定了几何量测量器具的一般术语、测量器具术语、测量器具特性术语和测量标准、基准术语的定义。 本标准适用于几何量测量器具及其相关领域。

Glossary of terms used in dimensional measuring instruments.General terms

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-11-02
实施
2009-05-01

本标准规定了谷物检验筛的要求。谷物检验筛在实验室使用,用于检出谷物样品中的杂质和穿过下列规格检验筛的物质。 a)长圆孔检验筛 1.00mm×20.0mm;1.50mm×20.0mm;1.60mm×20.0mm;1.70mm×20.0mm;1.80mm×20.0mm;1.90mm×20.0mm;2.00mm×20.0mm;2.20mm×20.0mm;2.25mm×20.0mm;2.50mm×20.0mm;2.80mm×20.0mm;3.50mm×20.0mm;3.55mm×20.0mm b)圆孔检验筛 直径1.40mm;直径1.80mm;直径4.50mm 上述a)中所列长圆孔检验筛主要用于从黑麦、小黑麦、杜伦麦、普通小麦和大麦中分离“皱缩粒”。这不包括孔径1.50mm和1.60mm的检验筛,这两种检验筛通常用于大米分级。同时也不包括孔径2.50mm和2.80mm的检验筛,这两种检验筛通常用于检验发芽大麦。 孔径1.40mm的圆孔筛被用来分离大米中的碎屑(小碎米)。孔径1.80mm的圆孔筛适用于高粱。孔径4.50mm的圆孔筛用于从玉米中分离破碎粒。

Test sieves for cereals

ICS
17.040.30
CCS
N50
发布
2008-07-16
实施
2008-11-01

本标准规定了电离辐射物位计的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于带有辐射源并利用其电离辐射对物质表面或者两种密度不同且不相混的物质的分界面位置进行连续或定点(单点或多点)测量的电离辐射物位计。被测物质可以是液体或粉粒状的固体,而输出信号可以是连续量或开关量。

Level meter utilizing ionizing radiation

ICS
17.040.30
CCS
F86
发布
2008-07-02
实施
2009-04-01

本标准规定了电离辐射密度计的产品分类,技术要求,试验方法,检验规则以及标志、包装、运输、贮存和随行文件。 本标准适用于利用电离辐射测量物质平均密度的电离辐射密度计(以下简称密度计)。

Density gauges utilizing ionizing radiation

ICS
17.040.30
CCS
F84;F86
发布
2008-07-02
实施
2009-04-01

本标准规定了电离辐射厚度计的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和随行文件。 本标准适用于利用电离辐射对被测材料的厚度或单位面积质量进行非破坏性静态测量的电离辐射厚度计(以下简称厚度计)。

Thickness gauges utilizing ionizing radiation

ICS
17.040.30
CCS
F86
发布
2008-07-02
实施
2009-04-01

本标准规定了γ射线探伤机(以下简称γ探伤机)的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。本标准不规定γ探伤机的测读系统及其要求。 本标准适用于采用密封放射源发射的γ射线进行工业射线照相的探伤机产品。本标准不适用于为特殊用途而设计的γ射线探伤机。

Apparatus for gamma radiography

ICS
17.040.30
CCS
N78;F86
发布
2008-07-02
实施
2009-04-01

本标准规定了刀具预调测量仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于在机床外使用的刀具预调测量仪(简称“刀调仪”)

The tool presetting and measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了准确度等级为0、1、2和3级,尺寸范围从160mm×100mm到2500mm×1600mm的长方形和方形铸铁平板的要求。 本标准适用于新制的、使用中的,以及被修复到原等级的铸铁平板(以下简称“平板”)。

Cast iron surface plates

ICS
17.040.30
CCS
H40;J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了电子数显测高仪的术语定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程不超过1000mm的电子数显测高仪(以下简称“测高仪”)

Height measuring instrument with electronic digital display

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装。 本标准适用于分辨力高于或等于0.001mm,量程小于或等于100mm,测量范围上限至500mm的电子数显内径千分尺。测量范围500mm~6000mm的电子数显内径千分尺参见附录B。

Internal micrometer with electronic digital display

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了齿轮测量中心的术语和定义、型式与基本参数、要求、安全性能、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于可测量齿轮0.5模数以上,顶圆直径不大于600mm的齿轮测量中心(以下简称“测量中心”)

Gear measuring center

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨率高于或等于0.001mm,量程小于或等于30mm的电子数显测微头和深度千分尺。量程等于50mm的电子数显测微头和深度千分尺参见附录A。

Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01

本标准规定了条式水平仪和框式水平仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.02mm/m、0.05mm/m、和0.10mm/m,规格为100mm、150mm、200mm、250mm和300mm,以水准泡读数的条式水平仪和框式水平仪(以下简称“水平仪”)。

Bar and frame level meter

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2008-06-25
实施
2009-01-01



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