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SGS金属镀层测试服务
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下一篇 2016-12-26 14:35:54/ 个人分类:实验方法
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SGS金属镀层测试服务
关键词:镀层厚度 镀层成分分析 样品表面污点分析 库伦法 金相法 涡流法 X射线荧光法 电子探针 能谱分析仪 异物分析
SGS针对镀层方面提供全面的检测服务
镀层厚度测试方法主要是库伦法,金相法,涡流测量法和X射线荧光法
库伦法
测量范围:0-35um误差为±10%
精度:0.01um
适用范围:可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属,表面光滑,最少有3mm²的平坦测试面
常用测试标准:ASTM B764-04(2009)、ASTM B504-90(2011)、GB/T 4955-2005、ISO 2177-2003
金相法
测量范围:1-100um
精度:0.1um
适用范围:对样品尺寸没有太大的要求
常用测试标准:GB/T 6462-2005、ASTM B487-1985(R2013)、ISO 1463-2003、EN ISO 1463-2004、
JIS H8501-1999、AS 2331.1.1-2001
涡流测量法
测量范围:0.5-200um
精度:0.1um
适用范围:可测量样品涂、镀层的厚度,样品要求表面平整,测试面相当平,误差就小
常用测试标准:GB/T 4957-2003、ASTM D7091-13
X射线荧光XRF
精度:0.01um
适用范围:属于无损测量,对样品没太大要求
常用测试标准:GB/T 16921-2005、ISO 3497-2000、DIN EN ISO 3497-2001、ASTM B568-1998(R2014)
ASTM A754-2011、JIS H8501-1999
镀层成分分析和样品表面污点分析
设备名称:电子探针和光电子能谱仪联用分析
测量精度:0.001%
适用范围:金属及其非金属表面涂、镀层的成分分析,表面污点、异物分析
采用精密分析设备电子探针,对各层成分金相分析,取样方式为切面法,对各层金相高倍放大进行点和面的分析,最薄的覆盖层厚度可以到0.1um,优点是其分析精度高,采样直接有代表性。
光电子能谱仪仪和电子探针联合运用,还可以对样品表面的点分析和面分析,对比分析可以知道材料表面污染造成的原因。
SGS提供上述测试标准的检测服务,详情请咨询SGS:
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