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全自动光学元件光谱分析仪

上一篇 / 下一篇  2012-11-29 14:26:31


  用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对

  反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。

  全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。

操作软件界面



类别

I型

II型

III型

探测器

Sony ILX511 x线形CCD 阵列

Sony ILX511 x线形CCD 阵列

Hamamatsu  S7031背照式2D-CCD

检测范围

380-1000nm

380-1100nm

360-1100nm

波长分辨率

<1.35nm

<1.35nm

<1.35nm

信噪比(全信号)

250:1

250:1

1000:1

相对检测误差

<0.6%(400-800nm)

<0.6%(400-800nm)

<0.2%(400-800nm)

操作方式

手动

电动

电动

角度分辨率

0.1º

<0.0002º

<0.0002º

重复定位精度:

-

<0.005º

<0.005º

旋转最大速度:

-

25º/s

25º/s

透射/反射测量角

>8º,<80º,可扩展到5º

单次测量时间

<100ms

S/P光测量

可以

样品尺寸

>5mm

操作系统/接口

Windows XP  Vista /USB2.0

产品尺寸

1020mm*485mm*300mm

功率/电源:

100W/220V-50HZ

其他

可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库



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  • 建立时间: 2012-09-17
  • 更新时间: 2017-05-18

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