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全自动光学元件光谱分析仪
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下一篇 2012-11-29 14:26:31
用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对
反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
操作软件界面
类别 |
I型 |
II型 |
III型 |
探测器 |
Sony ILX511 x线形CCD 阵列 |
Sony ILX511 x线形CCD 阵列 |
Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
检测范围 |
380-1000nm |
380-1100nm |
360-1100nm |
波长分辨率 |
<1.35nm |
<1.35nm |
<1.35nm |
信噪比(全信号) |
250:1 |
250:1 |
1000:1 |
相对检测误差 |
<0.6%(400-800nm) |
<0.6%(400-800nm) |
<0.2%(400-800nm) |
操作方式 |
手动 |
电动 |
电动 |
角度分辨率 |
0.1º |
<0.0002º |
<0.0002º |
重复定位精度: |
- |
<0.005º |
<0.005º |
旋转最大速度: |
- |
25º/s |
25º/s |
透射/反射测量角 |
>8º,<80º,可扩展到5º |
单次测量时间 |
<100ms |
S/P光测量 |
可以 |
样品尺寸 |
>5mm |
操作系统/接口 |
Windows XP Vista /USB2.0 |
产品尺寸 |
1020mm*485mm*300mm |
功率/电源: |
100W/220V-50HZ |
其他 |
可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库 |
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